Hanul Semiconductor中标日本全球MLCC制造商检测设备性能提升项目

Hanul Semiconductor将为日本一家全球性多层陶瓷电容器（MLCC）制造商开展外观检测设备人工智能性能提升项目。

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Hanul Semiconductor于12日表示，已成功中标该项目。

随着高容量MLCC的层数增加、尺寸缩小，精准识别微裂纹等缺陷的技术变得至关重要。由于人工智能服务器和汽车所用元件对可靠性要求很高，能够快速、准确地对生产出的芯片进行全检的设备需求日益增加。

Hanul Semiconductor长期向韩国大型MLCC制造商供应检测及工艺设备。该公司开发了将图像处理与人工智能深度学习相结合的自有人工智能检测平台“HaWAIe”，提升了对微裂纹、非规则缺陷等传统方式难以检测的不良品的识别能力。该公司的MLCC六面外观检测设备在自有性能测试中，以0603规格为基准，检测速度达到每分钟1.3万个以上，不良品检出准确率约为98%。

Hanul Semiconductor计划以此次中标为契机，将以韩国国内市场为主的芯片检测设备业务拓展至海外。公司将扩大为海外既有设备增配人工智能功能及提升性能的业务，并争取获得客户扩产带来的新检测设备供应机会。

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Hanul Semiconductor相关人士表示：“受MLCC供应短缺影响，全球制造商正在增加扩产和提升良率方面的投资。我们将凭借长期服务韩国客户的经验和自有人工智能检测技术，拓展日本、中国等海外客户。”

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